1BM.ru - Первый машиностроительныйВернуться на главную страницу порталаКонтактная информация

Первый Машиностроительный Портал

информационно-поисковая система
Форма для связи
 
Каталоги предприятий
Предприятия машиностроения
Поставщики проката, поковок, отливок
Работы и услуги для машиностроения
Библиотека портала
ГОСТы, ОСТы, ТУ
Марочник металлов и сплавов
Бесплатные программы
Реклама на портале
Отраслевой форум
Тендеры
Маркетинговые исследования
Последние поступления
Всего доступных документов: 67728
Новые карточки НТД: ГОСТ, ОСТ, ТУ
Добавить документ
Ваше положение в каталоге нормативных документов:
Методы испытаний. Упаковка. Маркировка - Каталог ОСТ
Страницы: 1 2 3 4 5 ... 12
Переход к странице:
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
|
ОСТ 11-0467.4-87
Микросхемы интегральные. Фильтры. Метод измерения верхней (нижней) граничной частоты полосы пропускания, максимальной (минимальной) частоты следования импульсов тактовых сигналов.
ОСТ 11-0481-87
Конденсаторы. Методы ускоренной оценки долговечности.
ОСТ 11-0504-87
Методы оценки надежности лазеров на растворах органических соединений.
ОСТ 11-0524-88
Изделия электронные СВЧ усилительные. Методы измерения коэффициентов блокирования по усилению и по шумам и мощности интермодуляции.
ОСТ 11-0527-88
Лазеры инжекционные, излучатели, решетки лазерных диодов, диоды лазерные. Методы измерения длины волны, ширины линии и ширины огибающей спектра лазерного излучения.
ОСТ 11-0566-88
Резисторы постоянные непроволочные высокочастотные и поглотители резистивные. Методы измерения ослабления.
ОСТ 11-0602-88
Элементы пьезокерамические. Методы измерения основных параметров.
ОСТ 11-0669-91
Фильтры пьезоэлектрические и электромеханические. Методы измерения параметров частотной характеристики затухания и амплитудно-частотной характеристики.
ОСТ 11-069.008-77
Оборудование для упаковки радиодеталей цилиндрической формы с осевыми выводами. Типы и основные параметры. Общие технические требования.
ОСТ 11-070.050-77
Конденсаторы и резисторы. Методы ускоренной оценки сохраняемости.
ОСТ 11-070.050-84
Конденсаторы и резисторы. Методы ускоренной оценки сохраняемости.
ОСТ 11-070.088-84
Изделия электронной техники. Испытания по оценке конструктивно-технологических запасов. Общие требования.
ОСТ 11-070.802-80
Материалы оптические и элементы твердосплавных лазеров. Метод определения лазерной прочности.
ОСТ 11-073.013-83
Микросхемы интегральные. Методы испытаний.
ОСТ 11-073.047-75
Микросхемы интегральные полупроводниковые. Метод измерения поверхностного сопротивления диффузионных, эпитаксиальных и напыленных резистивных слоев по тестовым резисторам.
ОСТ 11-073.048-75
Микросхемы интегральные полупроводниковые. Метод измерения поверхностной концентрации ионизированных атомов примеси в полупроводнике и эффективного заряда в диэлектрике по тестовым МДП-транзисторам.
ОСТ 11-073.054-76
Приборы полупроводниковые. Методы контроля отсутствия коротких замыканий и обрывов.
ОСТ 11-073.063-84
Микросхемы интегральные. Выбор и определение допустимых значений параметров воздействующих технологических факторов при производстве радиоэлектронной аппаратуры на интегральных микросхемах.
ОСТ 11-073.073-82
Контроль неразрушающий. Методы контроля температуры биполярных транзисторов и интегральных микросхем.
ОСТ 11-073.907-78
Микросхемы интегральные микропроцессорные. Методы контроля электрических параметров.
Страницы: 1 2 3 4 5 ... 12
Переход к странице:
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
|
Авторизоваться в системе:
ЛогинПароль(забыли?)
Авторизуйтесь на портале, используя свою учетную запись вКонтакте.
Авторизуйтесь на портале, используя свою учетную запись в Facebook.
Авторизуйтесь на портале, используя свою учетную запись в Mail.ru.
Copyright © 2006-2020, All rights reserved.
Rambler's Top100