Первый Машиностроительный Портал

информационно-поисковая система

Форма для связи

Последние поступления

ТУ 11 Яе0.021.038 ТУ-84

ТУ 84-466-74

ТУ 38 105598-87

ТУ 6-10-1789-80

Всего доступных документов: 70343

Новые поступления: ГОСТ, ОСТ, ТУ

Новые карточки НТД: ГОСТ, ОСТ, ТУ

Добавить документ

Ваше положение в каталоге нормативных документов:

КГС

Элементы радиоэлектронной аппаратуры - Каталог ОСТ

Э20 - Классификация, номенклатура и общие нормы

Э21 - Резисторы и конденсаторы

Э22 - Электронные и ионные приборы

Э23 - Полупроводниковые приборы

Э24 - Радиокомпоненты

Э25 - Микроэлектроника

Э26 - Квантовая электроника

Э29 - Методы испытаний. Упаковка. Маркировка

Страницы: 1 ... 5 6 7 8 9 ... 44

Переход к странице:
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 42 43 44

ОСТ 11-0290.5-87	Приборы фоточувствительные с переносом заряда. Метод измерения коэффициента передачи модуляции.
ОСТ 11-0290.6-87	Приборы фоточувствительные с переносом заряда. Метод измерения числа дефектов фоточувствительного поля.
ОСТ 11-0290.7-87	Приборы фоточувствительные с переносом заряда. Метод измерения чувствительности.
ОСТ 11-0304-86	Приборы полупроводниковые. Корпусы. Общие технические условия.
ОСТ 11-032.900-78	Структуры фосфида-арсенида галлия. Определение длины волны фотолюминесценции.

ОСТ 11-032.906-78	Полупроводниковые приборы. Измерение толщины пленок поликристаллического кремния на окисленной кремниевой подложке.
ОСТ 11-032.913-80	Пластины кремниевые. Параметры и размеры.
ОСТ 11-032.917-81	Структуры кремниевые и арсенид-галлиевые эпитаксиальные. Измерение толщины тонких эпитаксиальных слоев методом ИК-эллипсометрии.
ОСТ 11-032.920-82	Структуры эпитаксиальные и пленки диэлектрические. Метод измерения толщины эпитаксиальных слоев кремния в структурах типа кремний на сапфире (КНС) на основе ИК-интерференции.
ОСТ 11-032.925-84	Структуры кремниевые эпитаксиальные со скрытым слоем. Правила приемки.
ОСТ 11-0324-86	Трубки электронно-лучевые приемные и преобразовательные, приборы фотоэлектронные. Порядок проведения ускоренных испытаний на сохраняемость.
ОСТ 11-0326-86	Магниты из магнитотвердых материалов литые. Общие технические условия.
ОСТ 11-0330-86	Магнетроны. Методы ускоренных испытаний на безотказность, долговечность и гамма-процентный ресурс.
ОСТ 11-0334-86	Кинескопы цветного изображения. Система параметров.
ОСТ 11-0344-86	Резисторы постоянные непроволочные и поглотители резистивные. Методы измерения коэффициента стоячей волны по напряжению.

ОСТ 11-0354-86	Магнетроны. Методы измерения электрических параметров.
ОСТ 11-0357-86	Транзисторы полевые. Методы установления предельно допустимых электрических режимов эксплуатации.
ОСТ 11-0372-87	Квантроны. Основные параметры.
ОСТ 11-0377-87	Микросхемы интегральные. Усилители низкой, промежуточной и высокой частоты. Метод измерения верхней и нижней граничных частот.
ОСТ 11-0380-86	Резонаторы пьезоэлектрические. Методы измерения рассеиваемой мощности.

Страницы: 1 ... 5 6 7 8 9 ... 44

Переход к странице:
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 42 43 44

Авторизоваться в системе:

Логин	Пароль(забыли?)

Авторизуйтесь на портале, используя свою учетную запись вКонтакте.

Авторизуйтесь на портале, используя свою учетную запись в Facebook.

Авторизуйтесь на портале, используя свою учетную запись в Mail.ru.


	Copyright © 2006-2024, All rights reserved.